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在半導體制造、光學薄膜研發(fā)及精密涂層檢測等領(lǐng)域，薄膜厚度與光學參數(shù)的精準測量是保障產(chǎn)品質(zhì)量與性能的關(guān)鍵環(huán)節(jié)。Thetametrisis薄膜厚度測量儀（如FR-Scanner系列）憑借其高度集成的光學模塊設(shè)計，成為這一領(lǐng)域的標準設(shè)備——其光學...
在當今科技飛速發(fā)展的時代，對于精密測量的需求日益增長，膜厚測量作為眾多領(lǐng)域的關(guān)鍵環(huán)節(jié)，對測量設(shè)備的精度、可靠性和靈活性提出了更高的要求。而Thetametrisis膜厚測量儀FR-pRo作為一款模塊化和可擴展平臺的光學測量設(shè)備，正以其特殊的優(yōu)勢在市場中嶄露頭角。膜厚測量儀FR-pRo的模塊化設(shè)計堪稱一大亮點。這種設(shè)計理念使得設(shè)備的各個組件可以根據(jù)具體的應用需求進行自由組合和調(diào)整。無論是測量不同材質(zhì)的薄膜厚度，還是應對各種復雜的測量環(huán)境，都能輕松應對。用戶無需為了一次特定的測量...
在電子顯微鏡（電鏡）的微觀探索領(lǐng)域，圖像的清晰性和準確性至關(guān)重要。而電鏡防振臺作為保障電鏡穩(wěn)定運行的關(guān)鍵部件，其特殊的結(jié)構(gòu)原理發(fā)揮著至關(guān)重要的作用。電鏡防振臺的主要目標是隔離外界振動對電鏡的干擾，為電鏡創(chuàng)造一個近乎“靜止”的工作環(huán)境。其結(jié)構(gòu)設(shè)計通常融合了多種先進技術(shù)，以達到最佳的抗振效果。從整體結(jié)構(gòu)上看，該設(shè)備常采用多層結(jié)構(gòu)設(shè)計。最上層是放置電鏡的工作平臺，它需要具備高精度的平面度和穩(wěn)定性，以確保電鏡在運行過程中不會因自身結(jié)構(gòu)的不均勻而產(chǎn)生額外的振動。中間層是關(guān)鍵的隔振部件，...
在眾多對振動控制要求較高的領(lǐng)域，如精密儀器制造、光學實驗、航空航天等，高精度主動減振臺發(fā)揮著至關(guān)重要的作用。那么，它是基于怎樣的原理來實現(xiàn)高效減振的呢？高精度主動減振臺的核心原理是實時監(jiān)測和主動控制。它主要由傳感器、控制器、作動器和支撐結(jié)構(gòu)等關(guān)鍵部件組成。1.傳感器是主動減振臺的“感知器官”。它能夠敏銳地感知臺面上被支撐物體所受到的振動信息，包括振動的幅度、頻率、方向等參數(shù)。常見的傳感器有加速度傳感器等，它們可以將振動信號轉(zhuǎn)換為電信號，并將這些信號準確地傳遞給控制器。2.控制...
折射率測量儀，作為光學測量領(lǐng)域的重要工具，廣泛應用于科研、生產(chǎn)及質(zhì)量控制等多個領(lǐng)域。其基本原理是利用光在介質(zhì)界面發(fā)生折射現(xiàn)象，通過測量入射光和折射光的夾角，計算出介質(zhì)的折射率。那么，如何準確讀取折射率測量儀的數(shù)值呢？在使用該儀器之前，首先需要對儀器進行校準，以確保測量結(jié)果的準確性。校準過程中，通常使用標準試樣進行比對，調(diào)整儀器直至讀數(shù)視場中的明暗分界線與十字線中心重合，從而消除起始誤差。校準完成后，即可開始測量。對于液體樣品，需將其均勻涂抹在折射棱鏡表面，并確保無氣泡干擾。隨...
在現(xiàn)代科學和工業(yè)領(lǐng)域，對物質(zhì)光學性質(zhì)的精準檢測至關(guān)重要。而折射率測量儀，作為一種非常重要的光學物性檢測設(shè)備，發(fā)揮著不可替代的作用。折射率測量儀的核心原理基于光的折射現(xiàn)象。當光線從一種介質(zhì)進入另一種介質(zhì)時，其傳播方向會發(fā)生改變，折射率就是描述這種變化程度的物理量。該儀器通過精確測量光在不同介質(zhì)中的折射角度或折射光的光強分布等信息，進而計算出物質(zhì)的折射率。在科學研究方面，折射率測量儀有著廣泛的應用。例如在材料科學中，它可以幫助研究人員探究各種新型材料的光學特性。不同材料的折射率差...